熔斷器的多層設(shè)計(jì)
熔斷器采用多層設(shè)計(jì),能在更小的封裝尺寸下支持更高的電流額定值,并能提供更好的滅弧特性。
熔斷器設(shè)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)
熔斷器的多層式設(shè)計(jì)有利于玻璃陶瓷吸收材料作用于更多的熔斷器元件表面面積。在熔絲開路時,這樣就會有更多材料來吸收蒸氣化的熔絲材料,從而可以有效熄滅熔絲電弧現(xiàn)象。
單層玻璃覆層設(shè)計(jì)器件的電氣噪聲的拖尾特性表示,較長時間存在的引弧現(xiàn)象減緩了故障發(fā)生時的電路斷開速度。多層式設(shè)計(jì)展示了的開路特性,表明其高效的滅弧能力。
多層式設(shè)計(jì)的熔斷器元件深藏在熔斷器本體內(nèi)部,降低了高能量開路導(dǎo)致熔斷器表面破裂、將高能量電弧暴露于周圍環(huán)境甚至可能濺射出熔融金屬的可能性。
多層式設(shè)計(jì)表現(xiàn)了的隔離性,熔斷器元件擴(kuò)散于周圍的陶瓷基質(zhì)材料中。在玻璃覆層式設(shè)計(jì)中,元件的擴(kuò)散只在器件的一小部分發(fā)生,并僅由發(fā)生故障的正上方的玻璃材料進(jìn)行吸收。
熔斷器玻璃覆層式設(shè)計(jì)依靠只在熔斷器元件單側(cè)的玻璃覆層來吸收開路時的蒸氣化熔斷器材料。因此,能夠用來吸收熔絲材料的吸收性材料要少得多。這就產(chǎn)生了較長時間的引弧,并有可能導(dǎo)致熔斷器覆層破裂。